Odata cu aparitia unor noi tipuri de componente electronice, simpla inspectie la suprafata, nu mai este o optiune viabila. Deoarece cele mai multe conexiuni electice raman ascunse simplei priviri, cea mai buna varianta ramane utilizarea echipamentul cu raze X , Nikon XT V. Acestea sunt sisteme precise si flexibile care faciliteaza analiza defectelor in placile de baza, componentelor acestora si la interior. Acestea pot utiliza si tehnologia de tomografie computerizata.

 Nikon XT V130, este un sistem accesibil, compact si cu o greutate redusa, care poate efectua teste calitative in mod automat pentru serii de produse.

* Sursa de radiatii 30-130 kV
* Recunoaste particule de pana la 2 microni
* Zoom maxim de 150x

XT V 160 – Inspectie premium cu raze X

Conceput special pentru utilizarea in hala de productie sau in laboratorul metrologic, XT V 160 poate fi configurat cu component special destinate unei aplicatii specifice pentru a optimiza performanta de scanare. Desi initial a fost conceput ca un sistem manual, XTV 160 poate fi configurat complet automatizat, pentru a maximiza productia.

- Sursa raze X 160 kV / 20 , cu caracteristica de recunostere submicronica

- Camera dubla 4”/6” de 1.45 Mpixeli 12 Biti pentru o intensificare mai buna a imaginii

- Detector cu panou plat (optional)

- Manipulator in 5 axe (X, Y, Z, rotire, inclinare)

- Vedere 360° cu optiune de blocare in zona de interes

- Imagistica in timp real

- Pregatit pentru aplicatii CT (optional)

Utilizare intuitiva

- miscarea joystick-ului este intuitive, pentru inspectia cu raze X in timp real

- display mare de 30” sau sistem cu 2 monitoare de 22” pentru controlul sistemului dar si pentru analiza in timp real

- Software Inspect-X

Imagini clare cu o calitate exceptionala

- sursele microfocus sunt proiectate si fabricate “in-house”

- Marire geometrica de pana la 2400x pentru a observa cele mai mici detalii

- caracteristica de recunoastere a XT V 160 este de 500 nm

- procesare imagini pe 16 biti

- unghiul de inclinare de maxim 75°

- control precis al puterii si directiei fasciculelor de raze X

CONCEPUT PENTRU A SPORI PRODUCTIVITATEA

- inspectie rapida automatizata cu analiza imediata si raportare complete

- incarcare / descarcare rapida si usoara a piesei

- usa mare cu functie de on / off a razelor X atunci cand este inchisa / deschisa

- cititor coduri de bare pentru recunoastere automata a numarului de serie (optional)

COSTURI MICI DE INTRETINERE

- Sursa cu durata de viata nelimitata, datorita tubului deschis care ofera operatorului posibilitatea de inlocuire a filamentelor

- componentele care pot fi reparate sunt usor accesibile

- sursa integrate nu necesita cablu de inalta tensiune

SIGURANTA A FOST CRITERIUL DE PROIECTARE

- monitorizare continua a functionarii in conditii de siguranta

- datorita constructiei speciale, nu sunt necesare ecusoane special sau imbracaminte de protective

- structura este “captusita” cu plub, respectand standardele de siguranta DIN 54113 si regulamentul CE

Pe langa inspectia electronica, sistemele XT V sunt adecvate pentru inspectia unei game largi de componente mici.

Sisteme Micro-Electro-Mecanice (MEMS, MOEMS) folosite adesea in electronicele de larg consum, cum ar fi smartphone-urile, care pot include accelerometer, senzori de presiune, giroscoape, butoane de actiune, etc.

Inspectarea componentelor mici de serie, cum ar fi cabluri, piese din material plastic, lumini cu LED-uri, switch-uri, piese medicale, etc.

Sistemele XT V sunt furnizate cu un manipulator de mare precizie cu o axa rotativa optionala.

Datorita configuratiei special, tubul cu raze X poate fi controlat cu ajutorul software-ului userfriendly sau prin intermediul joystick-ului foarte precis.

Capabil de rotatii multiple chiar si la inclinare maxima, masa premium a XT V 160 poate oferi imagini clare si precise atunci cand magnificarea este la maxim.