XT H 225/320 LC има по-мощен рентгенов източник, с възможност за извършване на инспекции с висока точност на плътни индустриални обекти.
Politica de securitate (editeaza cu modulul Reasigurare pentru clienti)
Politica de livrare (editeaza cu modulul Reasigurare pentru clienti)
Politica de returnare (editeaza cu modulul Reasigurare pentru clienti)

XT H 225/320 LC има по-мощен рентгенов източник, с възможност за извършване на инспекции с висока точност на плътни индустриални обекти.
Nikon Metrology е единствената компания, произвеждаща 320kV микрофокусни рентгенови източници. Тъй като размерът на рентгеновото петно на тези източници е в пъти по-малък в сравнение с мини-фокусните източници, крайните потребители могат да се възползват от отлична резолюция, по-висока точност и по-широк спектър на измерваните образци.

Основни предимства:
Категория: Компютърна томография
Приложения: Производство на метални детайли, Мобилни телефони и часовници, Импланти и протези, Производство на пластмасови детайли, Анализ на пукнатини и повреди, Автоматизирани измервания, Инспекция на компоненти в самолетостроенето и автомобилостроенето, Зъботехнически приложения, Бяла техника, Дефекти в композитни материали, скали, минерали, металургични инспекции и др.
| XT H 225 | XT H 225 ST | XT H 225/320 LC | |
| Рентгенов източник (стандартен): | 225kV Microfocus Reflection Target |
225kV Microfocus Reflection Target |
225kV Microfocus Reflection Target |
|---|---|---|---|
| Рентгенов източник (опция): | 180kV Microfocus Transmission Target Rotating Target |
180kV Microfocus Transmission Target 225kV Rotating Target |
320kV Module 225kV Rotating Target |
| Захранване kV: | 180kV/ 225kV | 180kV/ 225kV | 225kV/ 320 kV |
| Мощност: | 225W | 225W | 225W/ 320 W (320kV Module) |
| Размер на рентгеновото петно: | 180kV Transmission Target: 1µm 225kV Reflection Target: 3μm |
180kV Transmission Target: 1µm 225kV Reflection Target: 3μm |
225kV Reflection Target: 3μm 320kV Module: 20μm |
| Геометрично увеличение | > 150x | > 150x | > 150x |
| Система за визуализация (стандартна): | Varian 2520 Flat Panel Detector |
Varian 2520 Flat Panel Detector |
Varian 2520 Flat Panel Detector |
| Система за визуализация (опция): | Perkin Elmer 0820 Flat Panel Detector Varian 4030 Flat Panel Detector |
Varian 4030 Flat Panel Detector Perkin Elmer 1620 Flat Panel Detector Perkin Elmer 1621 EHS Flat Panel Detector |
Varian 4030 Flat Panel Detector Perkin Elmer 1620 Flat Panel Detector Perkin Elmer 1621 EHS Flat Panel Detector |
| Манипулатор (стандартен): | 5 Axes | 5 Axes | 4 Axes |
| Ход по осите: | (X) 185mm (Y) 280mm (Z) 730mm (Tilt) +/- 30° (Rotate) n*360° |
(X) 300mm (Y) 350mm (Z) 750mm (Tilt) +/- 30° (Rotate) n*360° |
(X) 500mm (Y) 600mm (Z) 780mm (Rotate) n*360° |
| Манипулатор (опция): | n.a. | n.a. | Additional Tilt Axis |
| Максимално тегло на образеца: | 15 kg | 50 kg | 100 kg |
| Размери на корпуса (LxWxH): | 1,830mm x 875mm x 1,987mm | 2,330mm x 1,285mm x 2,230mm | 2,695mm x 2,366mm x 1,834mm |
| Тегло: | 2,400 kg | 4,200 kg | 8,000 kg |
| Безопасност: | All Nikon Metrology X-ray systems are manufactured to IRR99 | All Nikon Metrology X-ray systems are manufactured to IRR99 | All Nikon Metrology X-ray systems are manufactured to IRR99 |
| Управление: | All Nikon Metrology X-Ray systems are controlled by Nikon Metrology's in-house Inspect-X software |
All Nikon Metrology X-Ray systems are controlled by Nikon Metrology's in-house Inspect-X software |
All Nikon Metrology X-Ray systems are controlled by Nikon Metrology's in-house Inspect-X software |
| Опции на системата: | Advanced High Speed Reconstruction Workstation | Advanced High Speed Reconstruction Workstation | Advanced High Speed Reconstruction Workstation |
| Опции на системата: | Multi Metal Target (UltraFocus Reflecton Target Only) Advanced Filter Kit (UltraFocus Reflection Target Only) |
Multi Metal Target (UltraFocus Reflecton Target Only) Advanced Filter Kit (UltraFocus Reflection Target Only) |
Multi Metal Target (UltraFocus Reflecton Target Only) Advanced Filter Kit (UltraFocus Reflection Target Only) |
