Microscop SEM Nikon JCM 6000 Plus

JEOL NeoScope JCM-6000Plus este un microscop de scanare cu electroni (SEM) capabil sa raspunda la nevoile diversificate ale utilizatorilor. Pe langa SEM-urile conventionale care ocupa un spatiu mult prea mare, microscopul JCM-6000Plus este de tip benchtop ce are dimensiunile de 330mm (W) x 490mm (D) x 430mm (H). Datorita acestor dimensiuni reduse este considerat unul dintre cele mai compacte SEM-uri disponibile pe piata.
Microscopul dispune de un controler cu multi-touch screen, usor de folosit si intuitiv, ce realizeaza functii automate precum: auto focus, auto stigmator, auto contrast/ brightness. Controlerul ofera posibilitatea de a afisa doua imagini( una live si una de referinta) avand ca scop compararea rezultatelor.

Seria de microscoape SEM continua sa dispuna de functionalitati cum ar fi:  un nivel ridicat al vidului si detectorul de electroni secundari oferind posibilitatea de a observa, in mod clar, structuri fine de pe suprafata probei la apropiere mare.
    Echipamentul este disponibil in doua variante constructive: o varianta fara EDS (Energy dispersive spectrometer) si o varianta cu EDS. Acest modul realizeaza analiza chimica a suprafetei scanate.



Caracteristici tehnice

Zoom    10x - 60.000x
Tip analiza    Calitativa si Cantitativa
Tip observare    High vacuum/ Low vacuum
Voltaj de accelerare    Secondary electrons: 5KV, 10KV, 15KV
Blackscattered electrons: 10KV, 15KV
Cursa XY    35 x 35 (Manual/ Motorizat)
Inclinare masa    -15  ͦ to +45  ͦ; rotatie 360  ͦ Motorizata
Dimensiuni maxime piesa    70mm diametru x 50mm inaltime
EDS    Da
Filament    Precentrat (schimbare de catre operator

Echipamentul JEOL JCM-6000Plus poate fi utilizat intr-o gama larga de aplicatii dupa cum urmeaza:
•    industria medicala
•    industra automotive
•    Industria aerospatiala
•    industria metalurgica
•    industria electronica