Nikon XT H 225 Industrial CT Scanning

Nikon XT H 225 Industrial CT Scanning

  Sistemul XT H 225 ofera o sursa puternica de raze X, un volum mare de control, o rezolutie inalta a imaginilor si este gata pentru o reconstructie ultrarapida. Aceasta acopera o gama larga de aplicatii, inclusiv inspectia de piese mici turnate, piese din plastic si mecanisme complexe, precum si materiale de cercetare sau specimene naturale.

Beneficii:

Sursa de raze X de 225kV cu dimensiunea focalului de 3 μm

Sistemul functioneaza foarte usor si intretinerea are un cost redus

Imagini uimitoare care ofera o mare perspectiva

Achizitia de imagini clare si de mare precizie

Siguranta pe primul loc

Categorie: tomograf computerizat

Aplicatii: analiza crapaturilor si a defectiunilor, implanturi / proteze, compozite, roci / minerale, stofa / textile, metalurgie, confectii metalice sau din material plastic, inspectie componente auto, telefoane mobile, aparate de ras si ceasuri, aparate de uz casnic, cosmetice, aplicatii dentare, coroziunea metalelor, azbest, etc.

Precizie si performanta superioara datorita surse de raze X de 225kV.

Sursa de raze X este echipata cu un obiectiv de reflectie oferind o dimensiune de 3 microni. Indiferent de obiectul de masurat, sistemul XT H 225 foloseste un sistem de raze X “open tube” care garanteaza costuri mai mici.

Imagini uimitoare de la structurile interne

Procesare de inalta performanta

Nucleul de putere de procesare este situat in suita software-ului XT, care se bazeaza pe istoricul Nikon Metrology de a imbunatati transferul si functionarea sistemelor. Softul XT aduce de asemenea o imbunatatire a timpului de reconstructie a datelor CT disponibile pe un singur calculator. 

Operare usoara si automatizata

Utilizatorii urmeaza un training inainte de a utiliza sistemul.

Siguranta pe primul rand

Carcasa de protectie completa – conform cu standardele DIN 54113 de siguranta impotriva radiatiilor;  nu necesita insigne speciale sau imbracaminte de protectie. Masina este monitorizata continuu pentru a nu exista defectiuni.

Pret scazut

Tubul de raze X permite schimbarea usoara a filamentului astfel reducandu-se costurile de intretinere.

Sistemul se configureaza in functie de nevoile clientului.

Pentru aplicatiile mai complexe unde este nevoie de o acuratete mare, XT H 225 poate fi configurat cu diferite filtre sau accesorii pentru a-l face sistemul ideal. XT H225ST este o versiune mai mare care poate analiza probe de pana la 50kg cu un diametru de aproximativ 50cm.

XT H 160/225 specs

Microfocus source	Max. kV	Max. power	Focal spot size	Focal spot size at max power	XT H 160	XT H 225
160 kV Xi, Reflection target	160 kV	60 W	3 µm up to 7 W	60 µm at 60 W
160 kV Reflection target	160 kV	225 W	3 µm up to 7 W	225 µm at 225 W
180kV Transmission target	180 kV	10 W	1 µm up to 3 W	10 µm at 10 W
225 kV Reflection target	225 kV	225 W	3 µm up to 7 W	225 µm at 225 W
225 kV Rotating target option	225 kV	450 W	10 µm up to 30 W	113 µm at 450 W

	Basic configuration
	Alternative configuration

Detectors	# Bits	Active pixels	Pixel Size	Max. frame rate at 1x1 binning	Max. frame rate at 2x2 binning	XT H 160	XT H 225
Varian 1313	14-bit	1000 x 1000	127 µm	10 fps	30 fps
Varian 2520	14-bit	1900 x 1516	127 µm	7.5 fps	15 fps
Varian 4030	14-bit	2300 x 3200	127 µm	3 fps	7 fps
Perkin Elmer 0820	14-bit	1000 x 1000	200 µm	7.5 fps	15 fps